Strukturní a fázová analýza II (FSI-FSF)

Akademický rok 1999/2000
Garant: prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc.  
Garantující pracoviště: ÚMVI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Hlavním cílem předmětu je umožnit studentům orientovat se ve velkém
množství metod pro studium struktury a fázovou analýzu. Studenti by měli
být schopni volit metodu vhodnou pro řešení daných praktických problémů
a analyzovat získané výsledky z hlediska možností zvolené metody.Rovněž
by tento předmět měl studenty naučit jak se orientovatv tištěné i
elektronické literatuře, zejména pokud jde o havarie strojních zařízení.
Výstupy studia a kompetence:
Student by měl být schopen samostatně zadávat práci obsluze
rastrovacího nebo transmisního elektronového mikroskopu a
kriticky hodnotit výsledky získané různými metodami. Měl by být
schopen samostatně analyzovat strukturu nebo po konzultaci určit
příčiny nedostatečné funkce konstrukčních materiálů. Jeho znalosti
by měly umožňovat vyhledávání informací a další studium.
Prerekvizity:
 
Obsah předmětu (anotace):
Elektronová mikroskopie rastrovací a transmisní, elektronová
difrakce, rentgenová difrakce, mikroanalýza, Metody využívající
speciální zobrazení a difrakci (mikroskopie zobrazující
orientaci, ALCHEMI, difrakce konvergentního elektronového svazku,
rtg.difrakce pro určení textury). Moderní metodami umožňující
rozlišení na atomové úrovni- metody s rastrující sondou
(rastrovací tunelová mikroskopie a další. Konfokální mikroskopie).
Aplikace uvedených metod při řešení výrobních problémů.
Základy krystalografie a poruchy krystalové mřížky, včetně
jejich vlivu na jednotlivé užitné vlastnosti.
Metody vyučování:
 
Způsob a kritéria hodnocení:
Zápočet
Podmínky udělení zápočtu: prezence ve cvičení, vypracování elaborátů na samostatná zadání ve cvičení. Pokud tuto pomdínku student nesplní, může učitel v odůvodněných případech zadat náhradní programy cvičení.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
 
Typ (způsob) výuky:
    Přednáška  10 × 2 hod. nepovinná                  
    Laboratorní cvičení  10 × 2 hod. povinná                  
Osnova:
    Přednáška 1. Rastrovací elektronová mikroskopie, konstrukce mikroskopu
2. Difrakce a krystalografie, reciproká mřížka
3. Teorie kontrastu v elektronovém mikroskopu
4. Příprava vzorků pro elektronovu mikroskopii. Leptání struktury
5. Konstrukce transmisního elektronového mikroskopu, jeho části
6. Zobrazení poruch krystalové mřížky v elektronovém mikroskopu
7. Rtg. mikroanalýza, vznik rtg. záření a jeho vlastnosti
8. Rtg. mikroanalýha EDS, WS, korekce a využití
9. Rtg. difrakce a její využití měření textury
10. Speciální metody TEM (HVEM, HREM, ALCHEMI)
    Laboratorní cvičení 1. Rastrovací elektronový mikroskop - PC (Material Science on CD-ROM)
2. Rastrovací elektronový mikroskop ukázka funkcí při zobrazení
3. Příprava vzorků pro TEM (repliky, folie)
4. Transmisní elektronový mirkoskop - PC (Material Science on CD-ROM)
5. Transmisní elektronový mikroskop - exkurze
6. Vyhodnocení elektronové difrakce
7. Ukázky struktur získaných vTEM a jejich interpretace
8. Rastrovací elektronový mikroskop ukázka funkcí při mikroanalýze
9. Lokální a integrální měření textury
10. Ukázky speciálních metod.
Literatura - základní:
1. P.B.Hirsch et al.: Electron Microscopy of Thin Crystals, , 0
2. H.E.Exner,H.P.Hougardy: Quantitative Image Analysis of Microstructures, , 0
3. R.Feder,J.Wm.McGowan,D.M.Shinozaki: Examining of Submicron World, , 0
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
B2341-3 prezenční studium Materiálové inženýrství -- zá,zk 5 Povinný 1 3 L