Prostředky řízení jakosti (FSI-XPR)

Akademický rok 1999/2000
Garant: RNDr. Miroslav Skopal  
Garantující pracoviště: ÚPI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Seznámit posluchače s nejmodernějšími prostředky řízení jakosti ve strojí-
renství v oboru měření délek, kterými jsou CMM a LI.
Výstupy studia a kompetence:
Podrobné seznámení se současnými základními prostředky řízení jakosti
v oboru měření délek a geometrických veličin, kterými jsou CMM a LI.
Prerekvizity:
 
Obsah předmětu (anotace):
Předmět je zaměřen na studium měřidel (měřicích přístrojů a ostatních
metrologických prostředků) z hlediska jejich funkce, kterou je zajišťování
jakosti strojírenské výroby a v oborech souvisejících. Program přednášky
je zaměřen především na studium unikátních měřicích přístrojů, používaných
v oboru měření délky a ostatních geometrických veličin. Je studován
především souřadnicový měřicí stroj (CMM) a laserový interferometr (LI)
na současné nejvyšší úrovni metrologické podpory jakosti výroby jak
v celém oboru palety strojírenské výroby navazující na vysokou tradiční
úroveň u nás, tak i v oboru mikro- a nanotechnologií.
Metody vyučování:
 
Způsob a kritéria hodnocení:
Pro udělení zápočtu je nutná aktivní účast v laboratorních cvičeních.
Zápočet bude udělen na základě docházky a hodnocení aktivní účasti
ve cvičeních.
Zkouška sestává z ústní zkoušky, kde posluchač prokáže základní
teoretické a praktické znalosti.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
 
Typ (způsob) výuky:
    Přednáška  11 × 2 hod. nepovinná                  
    Cvičení na počítači  11 × 2 hod. povinná                  
Osnova:
    Přednáška 1. CMM, úvod a základní pojmy, matematická podpora.
2. CMM, souřadný a snímací systém a jeho realizace.
3. CMM, základní měřicí úlohy, strategie měření.
4. CMM, softwarová podpora.
5. Základy optického zobrazení s aspekty pro konstrukci měřidel.
6. Jednoduché optické měřicí přístroje, oko.
7. Klasické optické prostředky řízení jakosti (mikroskop, kolimátor, ..).
8. Laser jako zdroj záření pro měřidla.
9. Interferometrie v systému zajišťování jakosti. LI, základní použití
pro měření délek.
10. LI, doplňky pro měření geometrických veličin.
11. Optické metody v unikátních měřidlech, bezdotykové měření drsnosti,
bezdotykové snímací systémy CMM, mikro- a nanotechnologie).
    Cvičení na počítači 1. Úvod. Školení bezpečnosti při práci s lasery.
2. Konstrukční jednotky CMM.
3. Souřadný systém CMM, měřicí a snímací systém CMM.
4. Demonstrace základních měřicích úloh na CMM.
5. Programování složitějších měřicích úloh na CMM.
6. Jednoduché optické měřicí přístroje, zobrazení paprskové optiky.
7. Klasické optické měřicí přístroje.
8. Laser a jeho konstrukce.
9. Klasický interferometr pro návaznost koncových měrek.
10. LI pro polohování měřítek délky.
11. LI, použitý při speciálních úlohách zkoušek geometrických parametrů
obráběcích strojů a měřidel.
Literatura - základní:
1. Osanna, P.H. a kol.:: Koordinatenmeßtechnik für das Qualitätsmanagement im Produktionsbetrieb., , 0
2. Brezina, I.:: Súradnicové meracie stroje a ich zkúšanie., , 0
Literatura - doporučená:
1. Skopal, M.:: Souřadnicové měřicí stroje. [Sborník přednášek 11. konference ČKS]., , 0
2. Boček, V.:: Technická optika I. a II., , 0
3. Vrbová, M. a kol:: Lasery a moderní optika., , 0
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
M2301-5 prezenční studium Řízení jakosti -- zá,zk 4 Povinný 2 2 Z