Vybrané kapitoly z elektronové mikroskopie (FSI-TM0)

Akademický rok 2020/2021
Garant: Ing. Tomáš Vystavěl  
Garantující pracoviště: ÚFI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Studenti by měli po úspěšném absolvování kurzu být schopni popsat konstrukci elektronových mikroskopů, charakterizovat jednotlivé fyzikální procesy nutné k tvorbě obrazu, diskutovat funkce jednotlivých částí aparatury a posoudit vhodnost různých typů EM pro měření konkrétních vzorků.
Výstupy studia a kompetence:
Prohloubení znalostí o konstrukci elektronového mikroskopu a funkci jednotlivých jeho částí.
Prerekvizity:
Znalosti elektromagnetismu na úrovni učebnice HALLIDAY, D. - RESNICK, R. - WALKER, J.: Fyzika, VUTIUM, Brno 2001.
Obsah předmětu (anotace):
Předmět se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
Metody vyučování:
přednášky + praktická lekce
Způsob a kritéria hodnocení:
Zápočet udělí vyučující kurzu na základě kolokvia.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
Účast na přednáškách.
Typ (způsob) výuky:
    Přednáška  13 × 2 hod. nepovinná                  
Osnova:
    Přednáška Výběrová přednáška se zabývá elektronovou mikroskopií a příbuznými metodami jak z pohledu fyzikálních principů, konstrukce a výroby přístrojů ale i z hlediska praktického využití uživateli přístrojů.
1. Základy rastrovací a transmisní elektronové mikroskopie
2. Použití elektronové mikroskopie
3. Elektronová a iontová optika
4. Elektronové a iontové zdroje
5. Interakce elektronů a iontů s pevnou látkou
6. Detekce signálu v elektronové mikroskopii
7. Vakuový systém
8. Manipulace s preparátem v elektronovém mikroskopu
9. Speciální stolky preparátu
10. Mikroskop jako systém
11. Kontrast a obraz 1. (SEM)
12. Kontrast a obraz 2 (TEM)
13. Mikroskop jako laboratoř
14. Moderní trendy v elektronové mikroskopii
15. Praktická ukázka
Literatura - základní:
1. GOLDSTEIN, Joseph I. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. 3rd ed. New York: Kluwer Academic/Plenum publishers, 2003. xix, 689 s. ISBN 0-306-47292-9
2. REIMER, Ludwig. Transmission Electron Microscopy :Physics of Image Formation and Microanalysis. 3. ed. Berlin, 1993. 545 s. ISBN 3-540-56849-2
3. REIMER, Ludwig. Scanning electron microscopy :physics of image formation and microanalysis. Berlin, 1985. 457 s. ISBN 3-540-13530-8
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
M2A-P prezenční studium M-PMO Přesná mechanika a optika -- zá 2 Volitelný 2 1 L
N-FIN-P prezenční studium --- bez specializace -- zá 2 Volitelný 2 1 L
N-FIN-P prezenční studium --- bez specializace -- zá 2 Volitelný 2 2 L
M2A-P prezenční studium M-PMO Přesná mechanika a optika -- zá 2 Volitelný 2 2 L