Strukturní a fázová analýza I (FSI-ESF)

Akademický rok 1999/2000
Garant: prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc.  
Garantující pracoviště: ÚMVI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Umožnit studentům orientovat se ve velkém množství metod
pro studium struktury a fázovou analýzu. Studenti by po
absolvování obou kurzů měli být schopni volit metodu vhodnou
pro řešení daných praktických problémů a analyzovat
získané výsledky z hlediska možností zvolené metody.
Výstupy studia a kompetence:
Samostatné používání světelné mikroskopie, včetně polarizovaného
světla, fázového kontrastu a interference. Měření tvrdosti a
mikrotvrdosti a interpretace naměřených výsledků. Znalost
přípravy vzorků. Schopnost samostatné práce při obrazové analýze.
Analýza struktury a určování příčin nedostatečné funkce
konstrukčních materiálů.
Prerekvizity:
 
Obsah předmětu (anotace):
Metody studia struktury a fázová analýza jsou v celém kurzu,
tedy i v navazujícím letním semestru, dávány do souvislosti
s užitnými vlastnostmi kovových i nekovových mateirálů. Tyto
metody jsou podrobně popsány v pořadí: optická mikroskopie,
obrazová analýza, interakce elektronů s hmotou. U všech metod
jsou podrobně probrány výhody a nevýhody dané metody a příprava
vzorků .Základy krystalografie a poruchy krystalové mřížky,
včetně jejich vlivu na jednotlivé užitné vlastnosti, jsou
popsány v potřebném rozsahu.
Metody vyučování:
 
Způsob a kritéria hodnocení:
Zápočet:
Podmínky udělení zápočtu: prezence ve cvičení, vypracování elaborátů na samostná zadání ve cvičení. Pokud tuto podmínku student nesplní, může učitel v odůvodněných případech zadat náhradní programy cvičení.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
 
Typ (způsob) výuky:
    Přednáška  11 × 2 hod. nepovinná                  
    Laboratorní cvičení  11 × 2 hod. povinná                  
Osnova:
    Přednáška 1. Úvodní poznámky: vztah struktury a užitných vlastností materiálů. Typy
zobrazení
2. Shrnutí krystalografie a poruch krystalové mřížky
3. Paralelní zobrazení, základní vztahy v optice, optické vady
4. Příprava vzorků pro světelnou mikroskopii. Leptání struktury
5. Konstrukce světelného mikroskopu, jeho části
6. Jednotlivé části světelného mikroskopu a jejich funkce
7. Polarizované světlo, fázový kontrast - jejich aplikace
8. Obrazová analýza - úvod
9. Obrazová analýza a základy stereologie
10. Tvrdost - měření, využití
11. Interakce elektronů s hmotou
    Laboratorní cvičení 1. Ukázky struktur, včetně analýzy defektů
2. Krystalografie, symetrie - PC (Material Science on CD-ROM)
3. Praktická příprava vzorků pro světelný mikroskop - dělení,
broušení a leštění
4. Praktická příprava vzorků pro světelný mikroskop - elektrolytické
leštění a leptání
5. Světelný mikroskop
6. Bodové poruchy a dislokace - PC (Material Science on CD-ROM)
7. Využití polarizovaného světla a fázového kontrastu
8. Obrazová analýza - seznámení se softwarem LUCIA - PC
9. Obrazová analýza - praktická měření - PC
10. Měření tvrdosti a mikrotvrdosti
11. Interakce elektronů s hmotou - PC (Material Science on CD-ROM).
Literatura - základní:
1. P.B.Hirsch et al.: Electron Microscopy of Thin Crystals, , 0
2. H.E.Exner,H.P.Hougardy: Quantitative Image Analysis of Microstructures, , 0
3. R.Feder,J.Wm.McGowan,D.M.Shinozaki: Examining of Submicron World, , 0
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
B2341-3 prezenční studium Materiálové inženýrství -- zá,zk 5 Povinný 1 3 Z