Speciální praktikum II (FSI-TSI)

Akademický rok 1999/2000
Garant: doc. RNDr. Jiří Světlík, CSc.  
Garantující pracoviště: ÚFI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Prvá nabídka kursu si klade za cíl naučit studenty základním postupům
měření parametrů optických prvků a seznámit je prakticky s provedením a
přesností interferenčních a difrakčních metod.
Výstupy studia a kompetence:
V prvé nabídce studenti získají znalosti a dovednosti potřebné
k navrhování a vytváření optických soustav a provádění optických měření.
Druhá nabídka vede k získání praktických zkušeností s typickými
experimentálními technikami a postupy v oblasti fyziky povrchů a tenkých
vrstev.
Prerekvizity:
 
Obsah předmětu (anotace):
 
Metody vyučování:
 
Způsob a kritéria hodnocení:
 
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
 
Typ (způsob) výuky:
    Laboratorní cvičení  14 × 3 hod. povinná                  
Osnova:
    Laboratorní cvičení  
Literatura - základní:
1. Reynolds, G. O., DeVelis, J. B., Parrent G. B., Thompson B. J.: The New Physical Optics Notebook
2. Luth, H.: Surfaces and Interfaces of Solids
3. Eckertová, L.: Physics of Thin Films
Literatura - doporučená:
1. Fuka J., Havelka B.: I. Optika
2. Schroeder, G.: Technická optika
3. Feldman, L. C., Mayer J. W.: Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
M2301-5 prezenční studium Přesná mechanika a optika -- kl 3 Povinný 2 1 Z
M2301-5 prezenční studium Fyzikální inženýrství -- kl 3 Povinný 2 1 Z