Povrchy a tenké vrstvy II (FSI-T2T)

Akademický rok 1999/2000
Garant: prof. RNDr. Miloslav Ohlídal, CSc.  
Garantující pracoviště: ÚFI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Poskytnout základní znalosti z optiky povrchů a tenkých
vrstev.
Výstupy studia a kompetence:
Absolvent kursu získá schopnost posoudit a analyzovat
optické vlastnosti povrchů se systémy tenkých vrstev.
Prerekvizity:
 
Obsah předmětu (anotace):
Kurs je zaměřen na výklad teoretických základů interakce
světla se systémy tenkých vrstev pomocí moderních
formálních přístupů.
Jsou probírány základní experimentální metody používané
pro optickou analýzu tenkých vrstev.
Značná pozornost je také věnována aplikacím optických
vrstev v praxi a základním metodám přípravy těchto
vrstev.
Je probírán rovněž vliv defektů (zejména drsnosti
rozhraní) na parametry tenkovrstevných systémů.
Metody vyučování:
 
Způsob a kritéria hodnocení:
Podmínky udělení zápočtu: aktivní účast v laboratorním
cvičení.
Zkouška: Zkouška prověřuje znalost základů interakce
světla se systémy tenkých vrstev, znalost základních
experimentálních metod analýzy tenkých vrstev a měření
charakteristik drsnosti rozhraní. Zkouška je ústní.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
 
Typ (způsob) výuky:
    Přednáška  11 × 2 hod. nepovinná                  
    Laboratorní cvičení  11 × 1 hod. povinná                  
Osnova:
    Přednáška Optické charakteristiky tenkých vrstev. Maticový a rekurentní
formalizmus pro vyjádření těchto charakteristik. Základní
metody optické analýzy pro určení hodnot optických parametrů
tenkých vrstev. Optické vlastnosti některých vrstevnatých systémů
používaných v praxi. Vliv některých poruch na optické charakteristiky
tenkých vrstev. Vedení světla tenkými vrstvami. Základní vlastnosti
planárních světlovodů. Základní metody přípravy tenkých vrstev.
Základní metody koherenční optiky pro studium povrchové drsnosti.
    Laboratorní cvičení Metoda měření povrchové drsnosti
- z úhlové korelace polí koherenční zrnitosti,
- z rozptylu laserového světla,
- pomocí střihové interferometrie.
Literatura - základní:
1. Vašíček A.: Optika tenkých vrstev,
2. Knittl Z.: Optics of Thin Films,
3. Beckmann P., Spizzichino A.: The Scattering of Electromagnetic Waves from Rough Surfaces,
Literatura - doporučená:
1. Vašíček A. : Optika tenkých vrstev,
2. Čtyroký J., Hüttel,J.,Schröfel, Šimánková L.: Integrovaná optika,
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
M2301-5 prezenční studium Přesná mechanika a optika -- zá,zk 5 Volitelný 2 2 Z
M2301-5 prezenční studium Fyzikální inženýrství -- zá,zk 5 Volitelný 2 2 Z