Vybrané metody strukturní analýzy (FSI-9VMS)

Akademický rok 2019/2020

Garant:	prof. Ing. Jiří Švejcar, CSc.
Garantující pracoviště:	ÚMVI	všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky:	čeština
Cíle předmětu:
Cílem předmětu je poskytnout doktorandovi kvalitní přehled metod,které jsou k disposici pro analýzu struktury(morfologie,fázového i lokálního chemického složení)kovových i nekovových materiálů.Dále pak hluboké znalosti těch metod,které student bude využívat v rámci své experimentální činnosti při přípravě disertační práce.
Výstupy studia a kompetence:
Získání hlubokých znalostí experimentálních metod,používaných při přípravě disertační práce.
Prerekvizity:
Předpokladem pro studium tohoto předmětu jsou velmi dobré znalosti materiálových věd v celé jejich šíři, získané v průběhu bakalářského studia a zejména pak při studiu magisterské specializace.
Obsah předmětu (anotace):
Obsah předmětu,u kterého se nepředpokládá klasická přednášková forma ale pouze konsultace,je přizpůsobován zaměření budoucí disertační práce doktoranda.V rámci předmětu se student seznámí se základy všech běžně požívaných metod k charakterizaci struktur(světelná mikroskopie,transmisní a rastrovací elektronová mikroskopie,metody lokální chemické analýzy v elektronové mikroskopii,metody s rastrující sondou, rentgenostrukturní analýza atd.) Dále se pak velmi detailně seznámí s těmi metodami, které bude používat při tvorbě své disertační práce.
Metody vyučování:
Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny. V případě že je méně jak pět studentů, probíhají pouze konzultace
Způsob a kritéria hodnocení:
Zkouška-písemná i ústní
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
Výuka je nepovinná a obvykle probíhá pouze formou konzultací .Pouze pokud je přihlášeno více jak 5 studentů, probíhají přednášky
Typ (způsob) výuky:
Přednáška	10 × 2 hod.	nepovinná
Osnova:
Přednáška	Výběr experimentálních metod je přizpůsobován zaměření disertační práce.Proto se nepředpokládá výuka formou přednášek celé skupině studentů,ale pouze konzultační forma výuky. 1.Úvod do strukturní a fázové analýzy(metody zobrazovací a analytické) 2. Světelná mikroskopoie(metody zvýšení fázového kontrastu) 3. Kvantitativní hodnocení fází,tvrdost a mikrotvrdost 4. Úvod do elektronové mikroskopie 5. Strukturní faktor,reciproká mřížka,elektronová difrakce 6. Mikroskopie s vysokým rozlišením,nekonvenční zdroje elektronů,difrakce kovergentním svazkem elektronů 7. Vysokonapěťová transmisní elektronová mikroskopie,rastrovací elektronová mikroskopie 8. Environmentální rastrovací elektron.mikroskopie,úvod k analytickým metodám 9. Energiově a vlnově dispersní spektrometry(EDS a VDS)-obecné charakteristiky 10. Analýza s využitím energiových ztrát elektronů(EELS),další možnosti analýzy v elektron.mikroskopii 11. Problémy s aplikací EDS a VDS,ZAF korekce,analýza submikron.objemů 12. Obrazová analýza ve světelné a elektronové mikroskopii 13. Difrakční metody v transmisní a rastrovací elektron. mikroskopii. Rtg. difrakční analýza

Literatura - základní:
1. P.B.Hirsch et al.Electron Microscopy of Thin Crystals
2. P.E.J.Flewit,R.K.Wild,Physical Methods for Materials Characterization
3. D.Brandon-Microstructural Characterization of Materials
4. V.Radle,O.Engler-Tecture Analysis
5. J.I.Goldstein,et al. Scanning Electron Micriscopy and X-Ray Microanalysis
6. Shon Ling Wang-Characterization of Nanophase Materials