Speciální praktikum I (FSI-TS)

Akademický rok 2018/2019
Garant: prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.  
Garantující pracoviště: ÚFI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Studenti nabudou praktickou zběhlost při experimentální činnosti, získávání a zpracování výsledků a jejich následné analýze a interpretaci.
Výstupy studia a kompetence:
Schopnost samostatně experimentovat se znalostí teoretických základů problému.
Prerekvizity:
Atomová fyzika, fyzika pevných látek, kvantová fyzika, statistická fyzika a termodynamika, vakuová fyzika a technologie, geometrická a vlnová optika.
Obsah předmětu (anotace):
Praktikum obsahuje náročné experimentální úkoly, které vyžadují komplexní přípravu studenta k řešení zadaného tématu. Úlohy zahrnují oblast vakuové fyziky a techniky, světelné optiky, iontové a elektronové optiky, fyzikálních technologií a měření vlastností a analýzy materiálů.
Metody vyučování:
Výuka je tvořena laboratorním cvičením.
Způsob a kritéria hodnocení:
Hodnocení bude provedeno na základě předložrných protokolů s měřením a následné diskuse získaných výsledků. Účast povinná, v případě závažných důvodů lze některá z měření po individuální domluvě nahradit.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.
Typ (způsob) výuky:
    Laboratoře a ateliéry  13 × 3 hod. povinná                  
Osnova:
    Laboratoře a ateliéry Úloha 1. Rastrovací elektronová mikroskopie
Úloha 2. Rastrovací tunelovací mikroskopie
Úloha 3. Mikroskopie atomárních sil
Úloha 4. Rentgenová difrakční spektroskopie
Úloha 5. Měření I/V charakteristik
Úloha 6. Měření magnetické susceptibility
Literatura - základní:
1. ECKERTOVÁ, L.: Diagnostics of Thin Films
2. BROŽ, J.: Základy fyzikálních měření
Literatura - doporučená:
1. Autoři jednotlivých úloh: sylaby k jednotlivým úlohám
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
B3A-P prezenční studium B-FIN Fyzikální inženýrství a nanotechnologie -- kl 3 Povinný 1 3 L