Diagnostika nanostruktur (FSI-TDN)

Akademický rok 2022/2023
Garant: doc. Ing. Radek Kalousek, Ph.D.  
Garantující pracoviště: ÚFI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Cílem je poskytnout přehled o metodách umožňujících diagnostiku 1D a 0D nanostruktur, a to jak z hlediska jejich morfologických a strukturních charakteristik, tak i lokálních elektronických, optických, elektrických i magnetických vlastností.
Výstupy studia a kompetence:
Studenti získají přehled o aktuálním stavu nového oboru Diagnostika nanostruktur, což jim umožní i snazší orientaci při výběru vlastní diplomové či doktorské práce.
Prerekvizity:
Základní kurz fyziky, kvantová fyzika, fyzika pevných látek, povrchy a tenké vrstvy.
Obsah předmětu (anotace):
Předmět se zaměřuje na vysvětlení fyzikálních principů diagnostiky 1D a 0D nanostruktur vhodné pro zjišťování jejich morfologických a strukturních parametrů, jakož i lokálních vlastností . Budou popsány jednotlivé metody, zásady jejich výběru a optimalizace z hlediska zvýšení laterálního rozlišení . Vedle rastrovacích sondových mikroskopických metod (STM/STS, AFM, EFM, MFM, SNOM aj.) a elektronových a iontových mikroskopií (TEM/EELS, SEM/SAM,aj.) budou diskutovány i optické mikroskopické spektroskopické metody (např. konfokální rastrovací ramanovská spektroskopie a fotoluminscence) a nakonec kombinace zmíněných metod (STL, katodoluminiscence, TERS aj.). Uvedené metody budou rovněž demonstrovány a prakticky vyzkoušeny.
Metody vyučování:
Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny. Cvičení je zaměřeno na praktické zvládnutí látky probrané na přednáškách. Výuka je doplněna laboratorním cvičením.
Způsob a kritéria hodnocení:
Hodnocení studenta bude zohledňovat jeho práci ve cvičení a výsledky diskuze nad zadanými tématy při kolokviu (k přípravě povoleny poznámky z přednášek).
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.
Typ (způsob) výuky:
    Přednáška  13 × 1 hod. nepovinná                  
    Laboratorní cvičení  3 × 2 hod. povinná                  
    Cvičení  7 × 2 hod. povinná                  
    Cvičení s počítačovou podporou  3 × 2 hod. povinná                  
Osnova:
    Přednáška Úvod do rastrovací sondové mikroskopie (SPM); rastrovací tunelovací mikroskopie (STM) - principy zobrazování pomocí tunelového proudu a měřící mody; rastrovací silová mikroskopie (SFM) - typy sil a měřící mody, mikroskopie na bázi atomárních sil (AFM), mikroskopie využívající magnetických sil (MFM), mikroskopie na bázi elektrických sil (EFM) a Kelvinova silová mikroskopie (KFM); rastrovací optická mikoskopie v blízkém poli (SNOM); další typy SPM; principy konstrukce SPM; elektronová a iontová mikroskopie a spektroskopie (TEM/EELS, SEM/SAM,aj.); optické mikroskopické a spektroskopické metody (např. konfokální rastrovací ramanovská spektroskopie a fotoluminscence); kombinované metody ( STL, katodoluminiscence, TERS aj.).
    Laboratorní cvičení Viz cvičení.
    Cvičení Výpočty podpůrných teoretických příkladů, praktické demonstrace a vyzkoušení probíhají po celý semestr.
    Cvičení s počítačovou podporou Viz cvičení.
Literatura - základní:
1. Stroscio A., Keiser W. J.: Scanning Tunneling Microscopy, Academic Press, Inc., 1993.
2. Meyer E., Hug H. J.: Scanning Probe Microscopy, The Lab on a Tip, Springer , 2004.
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
CŽV prezenční studium CZV Základy strojního inženýrství -- kol 4 Povinně volitelný 1 1 L
N-FIN-P prezenční studium --- bez specializace -- kol 4 Povinně volitelný 2 2 L