Speciální praktikum I (FSI-TS)

Akademický rok 2022/2023
Garant: doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.  
Garantující pracoviště: ÚFI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština
Cíle předmětu:
Studenti nabudou praktickou zběhlost při experimentální činnosti, získávání a zpracování výsledků a jejich následné analýze a interpretaci.
Výstupy studia a kompetence:
Schopnost samostatně experimentovat a komunikovat výsledky na odpovídající úrovni písemnou a verbální formou.
Prerekvizity:
Atomová fyzika, fyzika pevných látek, kvantová fyzika, statistická fyzika a termodynamika, vakuová fyzika a technologie, geometrická a vlnová optika.
Obsah předmětu (anotace):
Praktikum obsahuje náročné experimentální úkoly, které vyžadují komplexní přípravu studenta k řešení zadaného tématu. Úlohy zahrnují oblast vakuové fyziky a techniky, světelné optiky, iontové a elektronové optiky, fyzikálních technologií a měření vlastností a analýzy materiálů.
Metody vyučování:
Výuka je založena na individuální praktické činnosti na vybraných experimentálních sestavách. Každí téma má svoji úvodní a pokročilou část, která navazuje ve druhém týdnu.
Způsob a kritéria hodnocení:
Hodnocení bude provedeno na základě předložených protokolů z měření a následné diskuse získaných výsledků. Účast je povinná, v případě závažných důvodů lze některá z měření po individuální domluvě nahradit.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
Přítomnost na cvičení je povinná a je sledována vyučujícím. Způsob nahrazení zmeškané výuky ve cvičení bude stanovena vyučujícím na základě rozsahu a obsahu zmeškané výuky.
Typ (způsob) výuky:
    Laboratorní cvičení  13 × 3 hod. povinná                  
Osnova:
    Laboratorní cvičení Na výuce se podílejí také studenti doktorského studia.

Rastrovací elektronová mikroskopie.
Rastrovací tunelovací mikroskopie.
Mikroskopie atomárních sil.
Rentgenová difrakční spektroskopie.
Měření transportních vlastností grafenu.
Měření magnetické susceptibility.
Literatura - základní:
1. ECKERTOVÁ, L.: Diagnostics of Thin Films
2. BROŽ, J.: Základy fyzikálních měření
Literatura - doporučená:
1. Autoři jednotlivých úloh: sylaby k jednotlivým úlohám
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
CŽV prezenční studium CZV Základy strojního inženýrství -- kl 4 Povinný 1 1 L
B-FIN-P prezenční studium --- bez specializace -- kl 4 Povinný 1 3 L