Teorie měření, měřicí techniky a technické diagnostiky (FSI-9TTD)

Akademický rok 2023/2024
Garant: doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.  
Garantující pracoviště: ÚFI všechny předměty garantované tímto pracovištěm
Jazyk výuky: čeština či angličtina
Cíle předmětu:
Vyložit fyzikální principy vybraných měřicích metod a činnosti meřicích přístrojů a zařízení.

Výstupy studia a kompetence:
Pochopení vybraných fyzikálních jevů z hlediska jejich použití jako podstaty měřicích metod, senzorů a funkce meřicích zařízení.
Prerekvizity:
Úspěšné studium vyžaduje znalosti a dovednosti, které odpovídají předmětům Fyzika I, Fyzika II a Metrologická fyzika.
Obsah předmětu (anotace):
Obsahem kurzu je seznámení účastníků s pokročilými metodami a prostředky měření s nanometrovým rozlišením.
Metody vyučování:
Předmět je vyučován formou přednášek, které mají charakter výkladu základních principů a teorie dané disciplíny.
Způsob a kritéria hodnocení:
Zkouška skládající se z ústní a písemné části.
Vymezení kontrolované výuky a způsob jejího provádění a formy nahrazování zameškané výuky:
Účast na všech prvcích výuky.
Typ (způsob) výuky:
    Přednáška  10 × 2 hod. nepovinná                  
Osnova:
    Přednáška Obecné pojmy a teorie. Statistika měření a zpracování chyb: rozdělení náhodných veličin: normální rozdělení, rovnoměrné rozdělení. Zákon přenosu chyb. Zpracování výsledků přímých a nepřímých měření.

Senzory: senzory obecná klasifikace. Kapacitní senzory. Indukční a indukčnostní senzory.

Diagnosticko-zobrazovací techniky: rastrovací elektronová mikroskopie, mikroskopie atomárních sil, rastrovací tunelová mikroskopie.
Literatura - základní:
1. DOEBELIN, O.D.: Measurement Systems. Application and Design.. New York: McGraw-Hill, 1990.
2. ORNATSKIJ, P.P.: Teoretičeskije osnovy informacionno-izměritělnoj techniki. Kijev: Vyšča škola, 1976.
3. Normy: Mezinárodní slovník základních a všeobecných termínů v metrologii.. ČSN 01 0115
4. BOX, G.E.P., HUNTER, W.G., HUNTER, J.S. Statistics for Experiments-an Introduction to Design, Data Analysis and Model Building, Wiley 1978
5. RIPKA, P.; TIPEK, A. Master Book of Sensors, part A, part B, Czech Technical University, 2003
6. WIESENDAGER. R., GUNTHERODT. J.H.: Scanning Tuneling Microscopy II, Springer 1995
7. REIMER, L, Scanning Electron Microscopy (2nd ed.), Springer,1998
8. WILIAMS, D. B., CARTER, C. B. Transmission Electron Microscopy (2nd ed.), Springer, 2009
Literatura - doporučená:
1. DOEBELIN, O.D.: Measurement Systems. Application and Design.. New York: McGraw-Hill, 1990.
2. Normy: Vyjadřování nejistoty při měření.
3. JENČÍK, J., KUHN, L. a další: Technická měření ve strojírenství.. Praha: SNTL, 1982.
Zařazení předmětu ve studijních programech:
Program Forma Obor Spec. Typ ukončení   Kredity     Povinnost     St.     Roč.     Semestr  
D-APM-P prezenční studium --- bez specializace -- drzk 0 Doporučený kurs 3 1 Z
D-APM-K kombinované studium --- bez specializace -- drzk 0 Doporučený kurs 3 1 Z