Ing. Michal Urbánek, Ph.D.

E-mail:   Michal.Urbanek@ceitec.vutbr.cz 
Osobní stránka:   http://physics.fme.vutbr.cz/urbanek
Pracoviště:   Ústav fyzikálního inženýrství
Zařazení:   Odborný asistent
Místnost:   A2-old/512

Vzdělání a akademická kvalifikace

  • 2008, Ph.D., FSI VUT v Brně, obor Fyzikální a materiálové inženýrství
  • 2000, Ing., Fakulta strojního inženýrství, VUT v Brně, obor Fyzikální inženýrství

Přehled zaměstnání

  • 2007-2008, asistent,  Ústav fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně
  • 2004-2007, technický pracovník, Ústav fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně

Pedagogická činnost

  • 2000-dosud, Výuka na FSI VUT v Brně, předměty: Fyzika I, Fyzika II, Fyzikální praktikum, Speciální praktikum

Vědeckovýzkumná činnost

  • In situ optická reflektometrie a elipsometrie
  • Depozice magnetických ultratenkých vrstev a multivrstev

Akademické stáže v zahraničí

  • 1999, šestiměsíční pobyt na University of Minho, Guimaraes, Portugalsko, tenké vrstvy pro solární články, program Erasmus
  • 2001, šestiměsíční pobyt na University of Minho, Braga, Portugalsko, tenké vrstvy pro solární články
  • 2005, krátkodobý pobyt na Université Joseph Fourier, Grenoble, Francie
  • 2006, krátkodobý pobyt na Universita degli studi di Bari, Bari, Itálie

Projekty

  • Anorganické nanomateriály a nanostruktury (2005-2010)
  • Funkční hybridní nanosystémy polovodičů a kovů s organickými látkami (2007-2011)

Aktuálně garantované předměty:

Vybrané publikace:

  • BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.:
    Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF-LEIS profiling,
    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, Vol.269, (2011), No.3, pp.369-373, ISSN 0168-583X
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • UHLÍŘ, V.; PIZZINI, S.; ROUGEMAILLE, N.; CROS, V.; JIMÉNEZ, E.; RANNO, L.; FRUCHART, O.; URBÁNEK, M.; GAUDIN, G.; CAMARERO, J.; TIEG, C.; SIROTTI, F.; WAGNER, E.; VOGEL, J.:
    Direct observation of Oersted-field-induced magnetization dynamics in magnetic nanostripes,
    PHYSICAL REVIEW B, Vol.83, (2011), No.2, pp.020406-1-020406-4, ISSN 1098-0121
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • KOH, A.; TOMANEC, O.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T.; MAIER, S.; MCCOMB, D.:
    HRTEM and EELS of nanoantenna structures fabricated using focused ion beam techniques,
    Journal of Physics: Conference Series, Vol.241, (2010), No.1, pp.012041-1-012041-4, ISSN 1742-6588
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • POLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T.:
    Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method,
    Surface and Interface Analysis, Vol.42, (2010), No.5-6, pp.649-652, ISSN 0142-2421
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.:
    Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process,
    NANOTECHNOLOGY, Vol.21, (2010), No.14, pp.145304-1-145304-7, ISSN 0957-4484
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • ANTOŠ, R.; URBÁNEK, M.; OTANI, Y.:
    Controlling spin vortex states in magnetic nanodisks by magnetic field pulses,
    Journal of Physics: Conference Series, Vol.200, (2010), No.1, pp.042002-1-042002-4, ISSN 1742-6588
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • ČECHAL, J.; LUKSCH, J.; KOŇÁKOVÁ, K.; URBÁNEK, M.; KOLÍBALOVÁ, E.; ŠIKOLA, T.:
    Morphology of cobalt layers on native SiO2 surfaces at elevated temperatures: formation of Co islands,
    Surface Science, Vol.602, (2008), No.15, pp.2693-2698, ISSN 0039-6028
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; BĚHOUNEK, T.; ŠIKOLA, T.:
    Imaging reflectometery in situ,
    Applied Optics, Vol.46, (2007), No.25, pp.6309-6313, ISSN 0003-6935
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.:
    In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS,
    Surface and Interface Analysis, Vol.38, (2004), No.8, pp.1218-1221, ISSN 0142-2421
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; BONAVENTUROVÁ, O.; NEBOJSA, A.; TICHOPÁDEK, P.; URBÁNEK, M.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J.:
    In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry,
    Jemná mechanika a optika, Vol.9, (2004), No.9, pp.260-262, ISSN 0447-6441
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; SZOTKOWSKI, R.; CHMELÍK, R.; BUČEK, M.; ŠIKOLA, T.:
    Instrument for thin film diagnostics by UV spectroscopic reflectometry,
    Surface and Interface Analysis, Vol.36, (2004), No.8, pp.1102-1105, ISSN 0142-2421
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., JIRUŠE, J., CHMELÍK, R., NEBOJSA, A.:
    In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films,
    Surface and Interface Analysis, Vol.34, (2002), No.1, pp.664-667, ISSN 0142-2421
    článek v časopise - ostatní, Jost
  • URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J.:
    Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films.,
    Micromat 2000, pp.604-609, (2000), Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht
    článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus
    akce: Micro Materials (MicroMat 2000), Berlin, 17.04.2000-19.04.2000

Seznam publikací na portálu VUT