Téma doktorského studia

Filtrace sekundárních elektronů v rastrovací elektronové mikroskopii a její aplikace při studiu pokročilých materiálů

Školitel: Ing. Mgr. Šárka Mikmeková, Ph.D.
Popis:
Současné rastrovací elektronové mikroskopy jsou vybaveny velmi sofistikovaným detekčním systémem, který umožňuje efektivní úhlovou a energiovou filtraci sekundárních elektronů. V současnosti je známo pouze několik málo praktických aplikací filtrace signálu sekundárních elektronů a jedná se především o zobrazení dopantu v polovodičích a studium polymerních struktur. Aplikace v oblasti charakterizace kovů či jejich slitin nebyla doposud prezentována a publikována. Cílem disertační práce bude proměřit a otestovat možnosti filtrace signálních elektronů v komerčních mikroskopech a nalézt přínos této metody pro studium kovů a jejich slitin. Dalším krokem bude navrhnout a realizovat vlastní detektor umožňující filtraci (energiovou a úhlovou) sekundárních elektronů, aplikovat na studium pokročilých kovových materiálů a vytvořit fyzikální model kontrastu ve filtrovaných mikrosnímcích.
Poznámka:
Rok Program Obor Zaměření Forma Jazyk Stav
2019/20 D4F-P D-FMI F P cs Schváleno oborovou radou