Téma doktorského studia

Analýza povrchů pevných látek a tenkých vrstev pomocí kombinace rozptylu nízkoenergiových iontů a dalších analytických a zobrazovacích metod

Školitel: doc. Ing. Stanislav Průša, Ph.D.
Popis:
Metoda rozptylu nízkoenergiových iontů (LEIS – Low Energy Ion Scattering) se vyznačuje extrémní povrchovou citlivostí. Proto je její aplikace žádoucí všude tam, kde hraje nejsvrchnější vrstva atomů zásadní roli v chování funkčních systémů (katalytické reakce, počáteční fáze oxidace povrchů, funkční struktury na bázi grafenu, příprava magnetických vrstev atd.). Navržené téma nabízí využití povrchové citlivosti metody LEIS v kombinaci s dalšími analytickými a zobrazovacími metodami jako je např. XPS, SIMS, AFM a STM při studiu vybraných systémů.
Poznámka:
Rok Program Obor Zaměření Forma Jazyk Stav
2019/20 D4F-P D-FMI F P cs Schváleno oborovou radou